Schwartz J., Larbalestier D.C., Hong S., Czabaj B., Miao H., Meinesz M., Wang X., Trociewitz U.P., Knoll D.C., Huang Y., Markiewicz W.D.
Schwartz J., Sastry P.V., Nguyen D.N.(nguyen@caps.fsu.edu), Knoll D.C.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, substrate Ni alloy, ac losses, measurement technique, RABITS process, stabilizing layers, fabrication
Schwartz J., Zhang G., Nguyen D.N.(nguyen@caps.fsu.edu), Sastry P.V.P.S.S., Knoll D.C.
Schwartz J., Nguyen D.N.(nguyen@caps.fsu.edu), Sastry P.V.P.S.S., Zhang G.M., Knoll D.C.(knoll@caps.fsu.edu)
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.